岸田 悟

岸田 悟 鳥取大学

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岸田 悟 の特色のある研究分野

• t-42: 問題 解法 ペトリネット 発火 グラフ 提案 に関する分野
• t-13: 薄膜 作製 発光 Ce薄膜EL 蛍光 結晶 に関する分野
• t-60: 結晶 形成 接着 成長 結晶化 接着性 に関する分野

t-42: 「問題 解法 ペトリネット 発火 グラフ 提案 」の分野に関する特色

特色キーワード

影響 伝搬 分類 確認 学習 ニューラルネットワーク ネットワーク 階層 マップ 自己組織化特徴マップ

関連する論文

• 汎化能力向上のための階層型ニューラルネットワークの条件付き付加項
• 汎化能力向上のための階層型ニューラルネットワークの条件付き付加項
• 階層型ニューラルネットワークにおける隠れユニットの自動削減システムの検討
• 階層型ニューラルネットワークの学習における付加項の探索
• モンテカルロシュミレーションを用いた、次世代CMOSデバイス対応ソフトエッチコンタクトプロセスの開発
• 分析データへのニューラルネットワークの適用
• クラスター分類問題に対する距離ネットワークの適用
• 汎化能力向上のための階層型ニューラルネットワークの条件付き付加項
• 汎化能力向上のための階層型ニューラルネットワークの条件付き付加項
• 自己組織化マップを用いた多次元データの確率密度分布の可視化

t-13: 「薄膜 作製 発光 Ce薄膜EL 蛍光 結晶 」の分野に関する特色

特色キーワード

伝導 Bi系 バルク 高周波 伝導薄膜

関連する論文

• 反射高速電子線回析およびX線光電子分光法による Bi 系超伝導バルク単結晶上の CeO_2 薄膜の評価
• 高周波マグネトロンスパッタ法によるバイアス印加時のBi_2Sr_2Ca_Cu_nO_y超伝導薄膜の作製
• BaRbBiO超伝導セラミックスのX線光電子分光測定
• 大気中および真空中劈開した80K相Bi系超伝導単結晶のSEM・SAMによる表面分析
• 不純物を添加したBi系超伝導単結晶のXPS測定
• 多元高周波マグネトロンスパッタ法による高品質Bi_2Sr_2CaCu_2O_y超伝導薄膜の作製
• 80K相Bi系超伝導単結晶上でのAu及びAg薄膜成長の比較
• 臨界温度80Kの超伝導物質Bi_2Sr_2CaCu_2O_y単結晶と薄膜のX線光電子分光法による表面分析(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)
• 高用波マグネトロンスパッタ法による 80K 相 Bi 系超伝導薄膜の作製
• 反射高速電子線回析およびX線光電子分光法による Bi 系超伝導バルク単結晶上の CeO_2 薄膜の評価

t-60: 「結晶 形成 接着 成長 結晶化 接着性 」の分野に関する特色

特色キーワード

分析 Bi系

関連する論文

• 清浄化したBi系単結晶のX線光電子分光による状態分析
• 分析データへのニューラルネットワークの適用
• 表面分析の基礎知識 反射高速電子線回析法
• 80K相 Bi 系バルク単結晶の表面劣化層の状態分析
• 大気中および真空中劈開した80K相Bi系超伝導単結晶のSEM・SAMによる表面分析
• ニューラルネットワークの化学分析への適用
• 臨界温度80Kの超伝導物質Bi_2Sr_2CaCu_2O_y単結晶と薄膜のX線光電子分光法による表面分析(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)
• 反射高速電子線回析およびX線光電子分光法による Bi 系超伝導バルク単結晶上の CeO_2 薄膜の評価
• 清浄化したBi系単結晶のX線光電子分光による状態分析
• Bi系酸化物高温超伝導バルク単結晶表面上への金属および絶縁薄膜の成長